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指數(shù)分布無記憶性( 二 )


應(yīng)用
在電子元器件的可靠性研究中 , 通常用于描述對(duì)發(fā)生的缺陷數(shù)或系統(tǒng)故障數(shù)的測(cè)量結(jié)果 。 這種分布表現(xiàn)為均值越小 , 分布偏斜的越厲害 。
指數(shù)分布應(yīng)用廣泛 , 在日本的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)中 , 半導(dǎo)體器件的抽驗(yàn)方案都是采用指數(shù)分布 。 此外 , 指數(shù)分布還用來描述大型復(fù)雜系統(tǒng)的平均故障間隔時(shí)間MTBF的失效分布 。
指數(shù)分布與分布指數(shù)族的分類不同 , 后者是包含指數(shù)分布作為其成員之一的大類概率分布 , 也包括正態(tài)分布 , 二項(xiàng)分布 , 伽馬分布 , 泊松分布等等 。
指數(shù)函數(shù)的一個(gè)重要特征是無記憶性(Memoryless Property , 又稱遺失記憶性) 。 這表示如果一個(gè)隨機(jī)變量呈指數(shù)分布 , 當(dāng)s,t>0時(shí)有P(T>t+s|T>t)=P(T>s) 。

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