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在眾多固態(tài)硬盤測(cè)試工具當(dāng)中，IOMeter在玩家群體中的知名度并不算很高，但能夠滿足專業(yè)SSD測(cè)試中你所需要的一切功能。上一期內(nèi)容已經(jīng)為大家介紹了IOMeter的界面，并用它測(cè)試了固態(tài)硬盤的順序讀取，今天我們來(lái)看如何用IOMeter進(jìn)行隨機(jī)存取測(cè)試。

固態(tài)硬盤廠商標(biāo)稱的順序讀寫和隨機(jī)讀寫IOPS，大都是將IOMeter作為指定測(cè)試工具。
IOPS隨機(jī)讀寫性能測(cè)試：
通常來(lái)說(shuō)，固態(tài)硬盤廠商標(biāo)稱的IOPS（每秒輸出輸出次數(shù)）是理想狀態(tài)下4K隨機(jī)讀寫峰值，即隊(duì)列深度和測(cè)試線程盡可能大，但又不會(huì)引起副作用的設(shè)定。通常測(cè)試設(shè)置可以像下面這樣進(jìn)行：4KB區(qū)塊、100%隨機(jī)、100%讀取、4KB對(duì)齊。

測(cè)試范圍：8GB LBA 。數(shù)據(jù)模型：偽隨機(jī)（使用Full random完全隨機(jī)經(jīng)常引發(fā)錯(cuò)誤，而且偽隨機(jī)對(duì)于SSD主控來(lái)說(shuō)已經(jīng)是不可壓縮的了）。隊(duì)列深度（Outstanding I/Os）設(shè)置為32 。雖然NVMe協(xié)議允許65535隊(duì)列長(zhǎng)度，但消費(fèi)級(jí)SSD的主控通常支持不了那么高。

然后我們將上面設(shè)置好的這個(gè)Worker（測(cè)試線程）復(fù)制一下，一共復(fù)制出8個(gè)Worker，也就是同時(shí)使用8個(gè)測(cè)試線程，每個(gè)測(cè)試線程都執(zhí)行QD8隊(duì)列長(zhǎng)度的4KB隨機(jī)讀取，以此來(lái)充分挖掘NVMe固態(tài)硬盤的隨機(jī)存取IOPS潛能。

點(diǎn)擊綠色旗幟按鈕開(kāi)始測(cè)試：測(cè)試結(jié)果中我們關(guān)注的是Total I/Os per second，即每秒的讀寫IO總數(shù)，IOPS 。IOMeter生成的記錄文件可以通過(guò)Excel打開(kāi)并根據(jù)需要制成表格。

點(diǎn)擊Total I/Os per Second右側(cè)的>按鈕，可以以圖形化方式展示IOPS數(shù)值。下圖中測(cè)得的隨機(jī)讀取IOPS為685412，優(yōu)于廠商標(biāo)稱值640000 IOPS 。

隨機(jī)讀寫QD隊(duì)列深度測(cè)試：
前面的測(cè)試只測(cè)量了4KB一種讀寫區(qū)塊的隨機(jī)讀寫能力，而且是基于高QD隊(duì)列深度下的峰值表現(xiàn) 。電腦在實(shí)際使用中硬盤需要面對(duì)各種不同區(qū)塊大小、各種隊(duì)列深度的使用條件。所以接下來(lái)我們將通過(guò)IOMeter測(cè)試不同隊(duì)列深度下不同區(qū)塊的隨機(jī)讀取（RR）和隨機(jī)寫（RW）性能。

在設(shè)置好測(cè)試項(xiàng)目之后，切換到Test Setup選項(xiàng)卡，于Cycling Option循環(huán)選項(xiàng)中選擇Cycle #Outstanding I/Os –run step outstanding I/Os on all disks at a time.測(cè)試隊(duì)列深度從1開(kāi)始，到128結(jié)束，每次循環(huán)結(jié)束后測(cè)試隊(duì)列深度數(shù)值翻倍：

測(cè)試完成后使用Excel打開(kāi)IOMeter生成的測(cè)試結(jié)果文件，可以利用它來(lái)制作各種數(shù)據(jù)圖表。

【固態(tài)機(jī)械混合安裝教程固態(tài)檢測(cè)軟件工具】下圖是制作好的NVMe SSD不同區(qū)塊的隨機(jī)讀寫QD趨勢(shì)圖表，其中展示了SSD隨QD隊(duì)列深度增長(zhǎng)的良好性能成長(zhǎng)性。

以上就是固態(tài)硬盤評(píng)測(cè)中常用的IOMeter測(cè)試項(xiàng)目。此外IOMeter還可用作填盤測(cè)試工具，用于在SSD內(nèi)生成指定大小的不可壓縮數(shù)據(jù)文件，然后通過(guò)其他測(cè)試軟件評(píng)估SSD在不同盤內(nèi)空間占用率下是否存在掉速。