【點(diǎn)陣缺陷含義】點(diǎn)陣缺陷含義是晶體中原子排列的不規(guī)則性和不完整性，按幾何形狀可分為點(diǎn)缺陷（如空位、間隙原子）、線缺陷（如位錯(cuò)）、面缺陷（如晶界、相界面），亦稱晶體缺陷 。點(diǎn)缺陷是最簡(jiǎn)單的晶體缺陷，它是在結(jié)點(diǎn)上或鄰近的微觀區(qū)域內(nèi)偏離晶體結(jié)構(gòu)的正常排列的一種缺陷 。點(diǎn)缺陷是發(fā)生在晶體中一個(gè)或幾個(gè)晶格常數(shù)范圍內(nèi)，其特征是在三維方向上的尺寸都很小，例如空位、間隙原子、雜質(zhì)原子等，都是點(diǎn)缺陷，也可稱零維缺陷 。
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