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熟悉存儲(chǔ)的朋友可能都知道，近年來(lái)3D NAND技術(shù)的崛起，使得固態(tài)硬盤產(chǎn)品的存儲(chǔ)容量實(shí)現(xiàn)翻倍，制造成本降低，大大加速了固態(tài)存儲(chǔ)的普及。近日，筆者收到了來(lái)自韓國(guó)存儲(chǔ)大廠科賦推出的、基于3D TLC NAND技術(shù)的CRAS C710 M.2固態(tài)硬盤。

科賦C710固態(tài)硬盤
通過(guò)命名，可以知曉這是科賦旗下CRAS C700 M.2的升級(jí)版本，其中最顯著的升級(jí)便是容量標(biāo)稱上了，全新CRAS C710是足量的256GB/512GB/1TB ，而C700則是240GB/480GB/960GB非足量版本；當(dāng)然了作為科賦固態(tài)硬盤系列家族的最新產(chǎn)品， CRAS C710除了在容量上有了顯著的升級(jí)外，到底還有哪些其他方面的升級(jí)？話不多說(shuō)，我們一起來(lái)看。

01產(chǎn)品解析：慧榮主控、Intel 3D TLC閃存顆粒

作為C700的繼承者，全新C710在外觀設(shè)計(jì)上依舊是標(biāo)準(zhǔn)的2280設(shè)計(jì)，支持NVMe 1.3協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)，設(shè)計(jì)做工非常簡(jiǎn)潔；通體黑色的PCB板，并在背面進(jìn)行了特殊工藝處理，十分具有質(zhì)感。

通體黑色PCB板
在更為關(guān)鍵的核心組件方面，主控采用了慧榮公司研發(fā)的SM2263XT主控，這也是一款應(yīng)用范圍極廣的經(jīng)典主控產(chǎn)品，是慧榮第二代NVMe主控，是一款DRAM-less主控，支持4通道，支持PCIE 3.0×4標(biāo)準(zhǔn)，NVMe1.3協(xié)議，最大順序讀寫可達(dá)2400/1700MB/s，最大隨機(jī)4K性能達(dá)到250K/140KIOPS，支持LDPC ECC糾錯(cuò)機(jī)制，全區(qū)均勻抹除、溫控調(diào)頻、智慧SLC Cache等機(jī)制。

SM2263XT主控
正是在這些機(jī)制的加持下，全新科賦CRAS C710 M.2固態(tài)硬盤在使用壽命、數(shù)據(jù)安全、產(chǎn)品穩(wěn)定方面都有著上佳的表現(xiàn) 。
閃存顆粒上，采用Intel研發(fā)的、編號(hào)為29F01T2ANCTH2，3D TLC閃存顆粒，單顆容量128GB ，共計(jì)4顆，容量總計(jì)512GB 。

Intel研發(fā) 3D TLC顆粒
慧榮2263XT搭配Intel研發(fā)的3D TLC閃存顆粒，將會(huì)碰撞出怎樣的火花？接下來(lái)進(jìn)入測(cè)試環(huán)節(jié) 。

02性能測(cè)試：讀取2000+MB/s主流表現(xiàn)

在性能測(cè)試之前，我們先通過(guò)CrystalDiskInfo，了解一下此款固態(tài)硬盤的相關(guān)參數(shù) 。

CrystalDiskInfo
在CrystalDiskInfo中，我們可以看到科賦C710的核心參數(shù)，支持標(biāo)準(zhǔn)NVMe 1.3協(xié)議，支持S.M.A.R.T ，同時(shí)也能了解到此款產(chǎn)品的讀寫入量和通電情況。
下面，我們將通過(guò)CrystalDiskMark、ATTO、Txbench進(jìn)行連續(xù)性能測(cè)試，同時(shí)通過(guò)AS SSD Benchmark進(jìn)行4K隨機(jī)性能測(cè)試。
在連續(xù)性能測(cè)試環(huán)節(jié)，我們將通過(guò)CrystalDiskMark、Txbench和ATTO三款軟件，進(jìn)行連續(xù)性能測(cè)試。
CrystalDiskMark是一款來(lái)自日本的老牌硬盤性能測(cè)試軟件，它能夠在保證了連續(xù)讀寫、512KB和4KB數(shù)據(jù)包隨機(jī)讀寫性能，以及隊(duì)列深度（QueueDepth）為32的情況下的4K隨機(jī)性能等常規(guī)測(cè)試外，還在隊(duì)列設(shè)置，性能描述，以及測(cè)試數(shù)據(jù)塊選擇上都進(jìn)行了優(yōu)化，更符合當(dāng)下硬盤的測(cè)試需求。

CrystalDiskMark測(cè)試
在CrystalDiskMark測(cè)試中，科賦C710的最大讀取速度達(dá)到2056MB/S，最大寫入速度達(dá)到1664MB/S ，接近理論最大性能。
在ATTO測(cè)試中，我們采用全新4.0版本的ATTO進(jìn)行測(cè)試，AATO的優(yōu)勢(shì)在于，可以通過(guò)測(cè)試不同維度的數(shù)據(jù)塊，進(jìn)行模擬日常的實(shí)際工作場(chǎng)景，從而更符合產(chǎn)品的實(shí)際功能，測(cè)試成績(jī)更有參考意義。