內(nèi)部補償下圖是一個典型的內(nèi)部補償型電路，它由7個TFT和1個存儲電容組成，因此被簡稱為7T1C結(jié)構(gòu) 。
類似還有6T1C，5T2C等很多類似電路結(jié)構(gòu)，經(jīng)過近幾年的不斷研究和發(fā)展，內(nèi)部補償電路的拓撲結(jié)構(gòu)幾乎已被窮盡，很難再有實用性的結(jié)構(gòu)創(chuàng)新 。
這種像素電路工作時一般都會有三個工作階段，會經(jīng)歷復(fù)位、補償、發(fā)光，即一個驅(qū)動周期至少要干2到3件事，因此對電路驅(qū)動能力和面板上的負載都有一定要求 。
它的一般工作思路是在補償階段把TFT的閾值電壓Vth先儲存在它的柵源電壓Vgs內(nèi)，在最后發(fā)光時，是把Vgs-Vth轉(zhuǎn)化為電流，因為Vgs已經(jīng)含有了Vth，在轉(zhuǎn)化成電流時就把Vth的影響抵消了，從而實現(xiàn)了電流的一致性 。
但是實際因為寄生參數(shù)和驅(qū)動速度等影響，Vth并不能完全抵消，也即當Vth偏差超過一定范圍時(通常?Vth≥0.5V)，電流的一致性就不能確保了，因此說它的補償范圍是有限的 。
外部補償之Demura
外部補償根據(jù)數(shù)據(jù)抽取方法的不同又可以分為光學抽取式和電學抽取式 。光學抽取式是指將背板點亮后通過光學CCD照相的方法將亮度信號抽取出來，電學抽取式是指通過驅(qū)動芯片的感應(yīng)電路將TFT和OLED的電學信號抽取出來 。
兩種方法抽取的信號種類不同，因此數(shù)據(jù)處理的方式也不同 。光學抽取的方式具有結(jié)構(gòu)簡單，方法靈活的優(yōu)點，因此在現(xiàn)階段被廣泛采用，即為我們平時所說的Demura 。
對于面板廠而言，需要進行質(zhì)量監(jiān)控，因此在產(chǎn)線上均有技術(shù)員去檢測判定mura，但是這種方法很主觀，不同人的判定有差異，給品質(zhì)管控帶來很大的困擾 。
因此技術(shù)人員開發(fā)出AOI設(shè)備進行mura的檢測，以及檢測到Mura后進行補償消除Mura，即Demura 。
OLED Demura技術(shù)，目前三星和LG處于領(lǐng)先的位置，但是Demura技術(shù)很復(fù)雜，均不能算成熟完美，國內(nèi)各個廠家也在積極開發(fā)子自己的Demura技術(shù)，希望能夠提升良率 。這也就是為啥大家經(jīng)常發(fā)現(xiàn)OLED屏幕出現(xiàn)陰陽屏、綠屏的原因 。
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