ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，根據(jù)客戶的測(cè)試要求、圖紙及參考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開發(fā)平臺(tái)，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術(shù)開發(fā)、設(shè)計(jì)各類自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備 。
ATE由DMM，程控電源，DAQ Card, 單片機(jī)，繼電器，PLC，氣缸，F(xiàn)ixture等組成的電信號(hào)自動(dòng)采集系統(tǒng)，廣泛運(yùn)用于ICT,FCT等測(cè)試設(shè)備 。軟件部分采用NI LABView編寫，全自動(dòng)依次采集并判定PASS/FAIL,自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)表并上傳數(shù)據(jù)庫(kù) ?；诟叻直媛使I(yè)CCD和NI Vision的視覺測(cè)試系統(tǒng)，用于焊點(diǎn)判別，尺寸測(cè)量，角度測(cè)量，字符識(shí)別等 。采用雙峰積分法，二值法處理圖片，運(yùn)用幾何工具量取尺寸，運(yùn)用特征碼識(shí)別對(duì)比圖片，具有較高的準(zhǔn)確度 。
【ate測(cè)試是什么】
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